X-STRATA920 – HITACHI

Los analizadores XRF de micropunto para el análisis de espesor de recubrimientos y materiales permite realizar un control de calidad rápido y no destructivo, con una preparación de muestra mínima y pruebas de validación de manera sencilla en sólo segundos para muestras sólidas o líquidas en un amplio rango de elementos que van desde Al hasta U.

El X-Strata920 está diseñado para el análisis de recubrimientos mono y multicapa, incluyendo capas de aleaciones que suelen ser usadas en la industria de acabado de metales o electrónica.

El X-Strata920 ofrece tres configuraciones para ubicar partes con diferentes geometrías: Slotted chamber, adaptada para piezas pequeñas y/o delgadas; Mini-well chamber, la cual da flexibilidad para la medición de muestras más altas, así como también ofrece la posibilidad de elegir la opción Móvil, la cual se puede programar para la medición automática de varias muestras.

Description

Puede manipular piezas de cualquier forma.

El X-Stata920 viene con cuatro configuraciones básicas para que pueda manipular piezas de cualquier forma.

  • La cámara ranurada con base fija estándar o ancha se adapta tanto a piezas pequeñas como a muestras largas y delgadas.
  • La cámara de minipocillos le brinda la flexibilidad de medir piezas más altas.
  • Elija la plataforma motorizada y programable para medir automáticamente múltiples muestras o varias ubicaciones en un solo ensamblaje.